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実験設備(測定・解析用) 写真をクリックすると拡大できます。
INDEX: » 測定・解析用 » 合成用
共焦点レーザー顕微鏡 (Nikon C2si Ready, 2010)
- リポソームやメゾ結晶の観察と高解像度のイメージ撮影に使います。最大倍率は 1,000倍。レーザーは、固体レーザー 561 nm、ダイオードレーザー 405 nm、アルゴンレーザーマルチライン 457, 488, 514 nm の5種類の励起光を使えます。動画や静止画の撮影も可能です。
SQUID 磁化測定装置 (Quantum Design MPMS-5S, 1998)
- サンプルの磁気特性の評価に使います。直流磁場は -5〜5 T、温度は 2.8〜400 K の範囲で、磁化の温度依存と磁場依存を測定します。磁気ダイナミクス評価のための交流磁化率測定、単結晶の磁化の角度依存測定用のローテーター、1.2 GPa まで等方的な加圧が可能なサンプルセルもあります。自作のガス導入系を使って、ガス雰囲気下 in situ 磁化測定も可能です。
ゼータ電位測定装置 (マイクロテック・ニチオン ZEECOM ZC-3000, 2010)
- リポソームや粒子表面の状態の評価に使います。電場中で泳動する粒子を顕微鏡でモニター・自動追尾して、個々の粒子のゼータ電位を求めます。他の装置とは異なる、ユニークな測定方法です。また、粒子のブラウン運動の解析により、粒径分布も測定できます。
蛍光X線分析装置 (Rigaku ZSX-100s, 2000)
熱重量・熱量同時測定装置 (Parkin Elmer TG-DTA STA 6000, 2010)
- 固体サンプルの組成評価に使います。数 mg のサンプルを用いて、15〜1000 ℃ の温度範囲で、加熱による重量減少からゲスト分子の包接量やサンプルの組成を決定します。重量変化に伴う示差熱
(DT) も同時に測定できます。
UV スペクトル+1滴測定装置 (JASCO V-630BIO + SAH-769, 2010)
- サンプル溶液の分光特性の評価に使います。測定波長範囲は 190〜1100 nm、スペクトルバンド幅は 1.5 nm です。小型制御モジュールで操作するため、パソコン不要です。1滴測定装置は、リポソーム系などの微量サンプル測定に有効です。
蛍光スペクトル+1滴測定装置 (JASCO FP-8200 + SAF-850, 2010)
IR スペクトル測定装置 + ATR (JASCO FT/IR-4200 + ATR PRO450-S, 2010)
- 化合物の構造評価に使います。測定波数範囲は 350〜7800 cm-1、最高分解能は 0.5 cm-1 です。ZnSe または Ge の1回反射 ATR を使って、サンプルを直にプリズム表面に密着させて測定します。一番使用頻度が高い装置です。
光ファイバー分光装置+反射スペクトルユニット (Ocean Optics USB2000, 2002)
- 溶液と固体サンプルの分光特性評価に使います。2048素子リニアCCDアレイディテクタで、250〜850 nm の波長範囲を、3 msec〜65
sec の積算時間、光学分解能 0.95〜7.62 nm で一気に測定できます。反射スペクトルユニットは簡単な仕組みですが、サンプルに直接置くだけで固体のスペクトルを測定できて、便利です。投げ込み測定ができる透過型プローブもあります。
円二色性分散計+電磁石+クライオスタット (JASCO J-820, 2000)
- 溶液および固体サンプルのキラリティを評価します。測定波長範囲は 163〜1100 nm、分解能は 0.0003% です。固体の場合は、KBr
ディスクにして測定します。試料室に電磁石とクライオスタットを装着すると、-1.5〜1.5 T、10〜300 K の範囲で、磁気円二色性(ファラデー効果)の温度依存と磁場依存を測定できます。
電気化学アナライザー + 電子冷却恒温槽 (BAS ALS612D + TB-1, 2010)
- 溶液および固体サンプルの酸化還元電位等の電気化学的特性の評価に使います。触媒電流の確認など、水から酸素や水素を発生させる触媒能の評価にも使います。ペルチェ式の冷却/加熱で、2.5〜70
℃ の範囲で恒温測定ができます。
分子構造シミュレーション + ワークステーション (Material Studio Ver. 6.1, 2012)
その他の装置
- 単結晶X線回折、TEM、NMR、ESI-MS、TOF-MAS、ESR などは共通機器等を利用しています。さらに精密構造解析や粉末X線-ラマンスペクトルの同時測定等には、SPring-8
の高輝度放射光を利用しています。